该方案通过显微拉曼系统对样品微区进行扫描采集，提取关键特征峰位置、半峰宽与强度变化。

结合 mapping 数据与样品制备流程，可快速判断二维材料中的应力集中、层数变化与缺陷分布。

方案适用于材料研发、质量评价和工艺优化等场景。